等离子体发射光谱原位监测系统
真空镀膜系统
产品概述
产品特点

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技术参数

●专为等离子体设备设计,实时监测反应腔内的放射光谱信号,用于分析等离子体状态、反应物浓度及工艺稳定性。

系统可与 PEALD、PECVD、ICP刻蚀、溅射镀膜等设备联动,实现工艺过程的可视化与精准控制。


光谱范围

200-1025nm(覆盖紫外至近红外)


光学分辨率

1.1-1.5nm


信噪比

330:1


动态范围

1600


积分时间

200 μs - 30s可调 


AD采样率

16-bit,2MHz高速采样


探测孔径

25 μm X 1mm


数据传输速度

480Mbps (USB 2.0转RJ45)


防溅镀结构

石英 /钛/不锈钢密封组件


准直镜

180°/90°可选


光纤类型

真空、大气两用光纤(200-1100nm,2m)







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